半导体
吉时利是您在半导体测试与测量领域中值得信赖的领导者,产品范围从材料研究开发到生产线上的测试。在研发实验室里,吉时利的半导体特性分析系统提供有力的灵敏度与灵活性,适合材料特性研究、器件特性描绘以及新设计的验证。吉时利同时在半导体工艺监控自动参数测试方面居于领先地位,有多项创新的设计助于加速测试与降低成本。比如,自动参数测试系统,在一次探针接触中同时测量直流与RF参数,另一方面半导体特性分析系统的软件将测试设定到测量结果简化到几个鼠标操作。吉时利的系统在转移到新应用时,仍然保有较低的转换成本,很容易地与其它设备(如机械手、高速多通道开关、特殊测试用的信号源)通信。欲了解更详细的吉时利半导体特性分析系统,请点击这里。
- 仪器特性分
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- 电容器-电容,电荷,低电流,击穿电压
- 设备建模-数据采集及参数提取
- 二极管-高击穿电压,I-V曲线
- 纳米电子器件-C-V特性
- 纳米电子器件-低电阻测量
- 纳米电子器件-纳米电子及单电子I-V曲线
- 电阻-宽动态范围,高测试准确度,快速测量
- Transistors - I-V, C-V measurements
- 功能性测试
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- 客户定制灵活的低容量功能测试-测试序列列表,快速过关/不过关,进料/分类,RF
- IDDQ(SOC及其它高集成设备)-源V,测量低电流
- 光IC及收发器-源V,测量I;源I,测量V
- 晶体管-I-V,C-V测量
- 材料研究
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- 导体/内部连接材料-低电流测量
- 导体/内部连接材料-低电阻及电容测量
- 绝缘材料-低电流,击穿电压,电荷特性
- 绝缘体-高阻测量
- 半导体-电阻率测量
- 半导体-可靠性加压测试
- 超导体-快速,低阻低噪声测量
- 过程监控
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- 尾端晶片接收-晶体管(Vt),二极管,电容器,电阻,栅延迟
- 设备鉴定-缺陷密度
- 栅/poly-MOSCAP GOI,ECD,Vt
- 金属-2-接触检查,电迁移,EWR
- 新技术-RF/DC, SOC, FeRAMs, MRAMS, LCD-TEGs
- 可靠性测试方案
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- 加速加压测试(AST)-电源,监控温度,测量多种DUT
- 监控及输入实验室环境参数-温度及湿度测量,分散/遥控通讯,长寿命
- 质量保证测试(QAT)- 客户定制解决方案,模块建立块,支持控制和通讯的驱动
- 晶片级热载衰变-高准确度,低噪声,加压多个并联晶体管以及测量小衰变的能力