首页 / 新闻发布 / 吉时利将参加第十一届国际集成电路研讨会暨展览会

近期展会

2011 NCSLI • NCSL International 50th Anniversary Celebration
National Harbor, MD • USA
August 22-24, 2011
查看详情

ICSCRM 2011
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
Cleveland, OH • Renaissance Cleveland Hotel
September 12-16, 2011
查看详情

MRS Materials Research Society FALL
Boston, MA • USA
Nov. 28-Dec. 2, 2011
查看详情

 

吉时利将参加第十一届国际集成电路研讨会暨展览会

Document Actions
美国吉时利仪器公司将于2006年3月10日-11日在深圳会展中心参加的第十一届国际集成电路研讨会暨展览会(IIC-China),展位号是8F17,真诚的邀请您光临我司的展位。

美国吉时利仪器公司将于2006310-11日在深圳会展中心参加的第十一届国际集成电路研讨会暨展览会(IIC-China),展位号是8F17,真诚的邀请您光临我司的展位。届时,吉时利将呈列2600数字源表系列多通道I-V测试的解决方案,2700精密多点测量解决方案,6221微弱信号AC/DC电流源,2182A纳伏表等多种吉时利精密测试测量仪器。同时,我们还为您准备了全套的测试测量目录及技术文集,并有精美研讨会CD赠送。

作为测试与测量仪器行业的领导者,美国吉时利仪器公司拥有60年的测试和测量经验,已经成为涵盖从DC(直流)RF(射频)先进的电子测量仪器和系统的行业领导者。面对电子制造业对高性能的生产测试、工艺监控、产品的研究与开发方面的特殊需要与挑战,提供适用的解决方案。通过建立在电子测试研发方面的优势,吉时利仪器公司已经成为一个在半导体、无线通讯、光电器件和其它精密电子测量领域世界级的测试技术领导者。我们对客户的核心价值在于先进的精密测量技术与深入了解客户应用的有机结合,从而可以帮助我们的客户提高产品质量、产能与产量。

在中国举办的国际集成电路研讨会暨展览会(IIC-China)10年来一直独家集中展示新的IC技术和最新应用方案。IIC-China是汇集技术领先公司、业界领袖、设计创新人员以及媒体和行业分析人员的最大型展览会,也是当今中国大陆电子产业最重要的技术盛会。中国正快速成为全球电子设计及生产中心。中国工程师面临紧跟技术发展步伐、提高设计复杂程度以及竞争激烈的压力。现在他们比以前更需要保持创新优势、使产品脱颖而出并确保产品率先推出市场的解决方案。

感谢您对吉时利仪器公司一贯的关注与支持!我们期待您的光临!

如果您确认出席此次展会,请填写以下的回执并传真给我们,您也可以点击http://www.keithley.cn/invitation/60310.html 在线填写回执表。

 

更多信息

要获取更多关于吉时利公司,及其测试和测量方案的信息,请联系吉时利仪器公司(中国)市场部

电话:

800-810-1334
010-8225501082255011

传真:

010-82255018

E-mail:

china@keithley.com

网址:

www.keithley.com.cn

地址:

吉时利仪器公司北京办事处
北京市海淀区北太平庄路18号,
城建大厦A1301室  100088

 

或直接联系吉时利仪器公司新加坡办事处:
           
地址:
456 Alexandra Rd.
                       NOL Building #14-02
                       Singapore, 119962
          
电话:
+65-6747-9077
          
传真:+65-6747-2991

 

关于吉时利仪器公司。

美国吉时利仪器公司具有50多年的测试和测量经验,已经成为涵盖从DC(直流)RF(射频)先进的电子测量仪器和系统的行业领导者。面对电子制造业对高性能的生产测试、工艺监控、产品的研究与开发方面的特殊需要与挑战,提供适用的解决方案。通过建立在电子测试研发方面的优势,吉时利仪器公司已经成为一个在半导体、无线通讯、光电器件和其它精密电子测量领域世界级的测试技术领导者。我们对客户的核心价值在于先进的精密测量技术与深入了解客户应用的有机结合,从而可以帮助我们的客户提高产品质量、产能与产量。

 

本文中涉及的产品和公司名称均为注册商标或各自公司的商标名称。

###








上次修改时间: 2006-03-07