吉时利（Keithley）发布新的半导体测试技术手册

美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，发布了以“克服先进半导体技术的测量挑战：DC、脉冲和RF－从建模到制造”为标题的半导体测试技术参考手册。140页的手册描述了当半导体制造商进入65nm工艺甚至更小时所遇到的测量挑战。手册可在下面的网址免费得到：http://www.keithley.cn/pr/pr014.htm

手册集合了吉时利半导体参数测试和器件特性分析专家们的经验和来自用户的应用经验。它涉及到新兴的多种技术和工艺，例如：

·        RF晶圆测试的挑战

·        栅极介电可靠性测试

·        电荷泵和可靠性

·        高频电容测量

·        铜工艺测试

·        先进的SMU DC 测量

该手册中还包含了半导体工业的通用术语表，包括了测试和测量术语。

需要免费获得一本，请访问http://www.keithley.cn/pr/pr014.htm.

更多信息

如果您需要了解吉时利半导体测试和测量系统和工具的更多信息，请及时联系吉时利仪器公司（中国）市场部：

关于吉时利仪器公司

美国吉时利仪器公司具有50多年的测试和测量经验，已经成为涵盖从DC(直流)到RF(射频)先进的电子测量仪器和系统的行业领导者。面对电子制造业对高性能的生产测试、工艺监控、产品的研究与开发方面的特殊需要与挑战，提供适用的解决方案。通过建立在电子测试研发方面的优势，吉时利仪器公司已经成为一个在半导体、无线通讯、光电器件和其它精密电子测量领域世界级的测试技术领导者。我们对客户的核心价值在于先进的精密测量技术与深入了解客户应用的有机结合，从而可以帮助我们的客户提高产品质量、产能与产量。

本文中涉及的产品和公司名称均为注册商标或各自公司的商标名称。