新闻发布
单机实现三大基本特征分析功能的吉时利超快C-V测量系统
美国俄亥俄州克里夫兰，2010年2月23日讯——先进电子测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司（NYSE：KEI），今日宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块，进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。
吉时利扩展DC源测量仪器的量程兼容ACS基础版软件
美国俄亥俄州克里夫兰，2009年8月31日讯–– 先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司（NYSE：KEI），日前增强了其受欢迎的ACS基础版软件，从而增加对更宽范围的源测量（SMU）仪器的支持。扩大兼容仪器的选择范围对于扩展该软件的电压和电流极限用于太阳能电池、光伏板和分立功率半导体测试特别有用。
最新高速、长寿命6×16矩阵卡扩展吉时利3700系列系统开关/万用表系列
美国俄亥俄州克里夫兰，2009年7月7日讯–先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司（NYSE：KEI），日前发布通过增加新的开关插卡3731型6×16高速磁簧继电器矩阵卡扩展其3700系列系统开关/万用表和插卡系列产品。
吉时利为3700系列系统开关/万用表固件增加免费图形绘制工具包——用于“提前查看”采集的数据
美国俄亥俄州克里夫兰，2009年6月24日讯–先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司（NYSE：KEI），日前发布为其3700系列系统开关/万用表系列增加了基于Web浏览器、多通道图形绘制工具包的功能。最新3700系列主机固件都免费加入这种新的数据可视化功能，从而使用内建数字万用表选件进行通道测量时，这种功能能快捷地让用户观察测量数据与时间关系，无需编写程序以及操作任何数据文件。
吉时利推出用于半导体器件探测和特征分析设备的混合信号互连解决方案
克里夫兰，俄亥俄，2009 年 3 月 20 日讯——吉时利仪器公司（NYSE：KEI），作为先进电气测试仪器与系统的世界级领导者，近日推出了测试界第一个利用一套线缆即可处理 I-V、C-V 和脉冲 I-V 信号的互连解决方案（正申请专利）。这款最新的布线套件基于专利型设计，能够大大加快并简化从任意先进半导体参数分析仪到 Cascade Microtech 或 SUSS MicroTec 探测器进行直流电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）和脉冲 I-V 测试互连的过程。这些互连线的设计与吉时利 4200-SCS 半导体特征分析系统以及其他一些用于特征分析的测试仪器兼容。
吉时利 4200-SCS 升级版支持太阳能电池测试、扩展的 C-V 测量频率范围和九槽机架结构
克里夫兰，俄亥俄，2009 年 3 月 20 日讯——吉时利仪器公司（NYSE：KEI），作为先进电气测试仪器与系统的世界级领导者，近日对其屡获殊荣的 4200-SCS 半导体特征分析系统进行了全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件（KETI）V7.2 版经过升级囊括了九种新的太阳能电池测试库，扩展了系统电容-电压（C-V）测量功能的频率范围，支持该公司最新的九槽 4200-SCS 仪器架构。
吉时利发布高性价比元件测试解决方案——融出色易用性和强大曲线绘制功能于一身
克里夫兰，俄亥俄，2008年12月3日讯——新兴测量需求解决方案提供商吉时利仪器公司（NYSE：KEI），日前针对元件测试应用推出特征分析和曲线绘制软件ACS基础版。ACS基础版是吉时利功能强大的自动特征分析套件系列的最新产品，集成了业界量程最宽的源测量单元——吉时利数字源表系列。
吉时利推出灵活、高性能的50MHz任意波形/函数发生器
美国俄亥俄州克里夫兰，2008年10月22日讯——新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利(Keithley)仪器公司（NYSE：KEI），日前发布推出了3390型50MHz任意波形/函数发生器，该发生器在市场同类产品中具有最高的波形分辨率和最佳的性价比。
吉时利针对便携式电池供电设备高速测试而优化设计的快速瞬态双通道电源
美国俄亥俄州克里夫兰，2008年10月15日讯——新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利(Keithley)仪器公司（NYSE：KEI），日前发布最新推出2308型便携式设备电池/充电器仿真器，该仿真器是一种双通道电池/充电器仿真电源，能够最大限度地降低采用新型复杂发射机制的移动电话和其他功耗极低的新型便携式设备的测试成本。
吉时利推出具有业界最快、最便捷I-V特征分析功能的数字源表仪器平台
美国俄亥俄州克里夫兰，2008年9月23日讯——吉时利仪器公司（NYSE：KEI），作为新兴测量需求解决方案的领导者，近日最新推出了2600A数字源表系列仪器。这类仪器具有无可比拟的易用性、出色的测量性能和灵活性，能够帮助用户加快产品的上市时间，降低测试成本，简化进行高性能测量的过程。
吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEI V7.1升级版扩展了C-V、I-V和脉冲式I-V特征分析功能
美国俄亥俄州克里夫兰，2008年7月29日讯——新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7.1版。
吉时利推出扩展3700系列开关/万用表新型插卡
美国俄亥俄州克里夫兰，2008年7月21日讯——新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前发布了两款新型插卡：3724型双1X30固态FET继电器多路转换卡和3750型多功能I/O卡，从而扩展了其3700系列开关/万用表和插卡产品系列。新推出的这些插卡帮助测试工程师进一步扩宽了对各种开关配置结构的支持，以满足测试复杂性日益增加的需求。
吉时利与Stratosphere Solutions合作研发65nm以下先进工艺的特征分析技术
本次合作将推出可互操作的硅验证解决方案进一步提高工艺参数成品率
吉时利荣膺测试与测量世界杂志最佳测试奖
美国俄亥俄州克里夫兰，2008年1月23日讯——吉时利仪器公司（NYSE:KEI），作为新兴测量需求解决方案的领导者，近日凭借其出色的4X4 MIMO（多入多出）射频测试系统荣膺《测试与测量世界》杂志最佳测试奖。
吉时利ACS V3.2版以全新的并行测试与参数式管芯分拣功能突破测试产能
美国俄亥俄州克里夫兰，2008-1-10日讯：吉时利仪器公司（NYSE：KEI），作为新兴测量需求的领导者，近日推出了用于器件级、圆片级和晶匣级半导体测试与特征分析的自动特征分析套件ACS V3.2版。
吉时利集成最新C-V模块及软件，4200-SCS系统
吉时利为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU
吉时利和CNSI宣布在纳米技术测量领域建立合作关系
吉时利仪器公司日前宣布结盟位于加州大学洛杉矶分校（UCLA）的加州纳米系统研究院（CNSI）并展开合作。
吉时利发布了3700系列系统开关/万用表和插卡系列产品
吉时利仪器公司今日发布了其3700系列系统开关/万用表和插卡系列产品，这是吉时利基于新一代平台的开关和集成数字万用表（DMM）测试解决方案。
吉时利发布新型低电流测量数字源表产品
美国俄亥俄州克利夫兰市2007年9月17日讯——新兴测量需求解决方案的领导者吉时利仪器公司（NYSE:KEI），今日发布了其2600系列SourceMeter® 数字源表的两款新产品2635和2636，自此形成业界技术最先进、效费比最高的半导体参数分析与测试解决方案。
吉时利发布高级参数探针卡的供货信息
克里夫兰，俄亥俄，2007年7月18日讯——吉时利仪器公司（NYSE:KEI），作为新兴测量需求解决方案的领导者，近日宣布其已经授权位于加利福尼亚利弗莫尔的FormFactor公司（Nasdaq: FORM）为吉时利的半导体参数测试仪制造高性能的参数测试探针卡。
吉时利推出基于LINUX的参数测试系统
克里夫兰，俄亥俄，2007年7月17日讯——吉时利仪器公司（NYSE:KEI），作为新兴测量技术解决方案的领导者，近日发布了关于其S600系列参数测试系统的一组升级功能。
吉时利率先推出高精度、低价位六位半USB数字万用表
吉时利仪器公司（NYSE：KEI），作为新兴测量需求解决方案的领导者，近日发布了其最新的2100型六位半USB数字万用表（DMM），这是一款基于USB的高精度、低价位测量仪器。
吉时利发布了支持更快捷更方便半导体测试的集成测试系统
吉时利仪器公司（NYSE: KEI）作为新兴测量技术解决方案的领导者，今日发布了ACS（Automated Characterization Suite，自动特征分析套件）集成测试系统，该测试系统能够实现器件级、圆片级和黑盒级的半导体特征分析工作。
吉时利针对先进半导体器件测试推出了新的功能增强型脉冲与脉冲I-V测试解决方案
吉时利仪器公司（NYSE: KEI）作为先进测量技术解决方案的领导者，近日发布了其获奖产品——4200-SCS半导体特征分析系统的最新硬件和软件升级版本，这次升级引入了4200-SCS新一代的脉冲测试功能。
吉时利宣布举办主题为“纳米时代”的在线培训活动
吉时利仪器公司（NYSE:KEI）近日宣布，将在2007年4月24日至4月26日期间，举办一次题为“纳米时代”在线纳米技术培训活动。这次独特的虚拟研讨会以“直观（VISUALIZE）、特征（CHARACTERIZE）、实现（REALIZE）”为主题。
吉时利发布新版数据采集、测量与控制手册
美国俄亥俄州克利夫兰市2007年3月20日讯 — 新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利 (Keithley) 仪器公司（NYSE代码：KEI）, 日前发布最新《掌握最新的数据采集、测量与控制开发手段》一书。本手册厚达220多页，是关于高性能测试与测量技术的实用指南。
Keithley四月全国8城，传播最新通用测量技术
美国俄亥俄州克利夫兰市，中国北京2007年3月5日讯 — 美国吉时利 (Keithley) 仪器公司（NYSE代码：KEI）今日发布，2007年度4月举办全国8城市技术巡回研讨会，首场于4月3日上海开锣，为期18天，巡回苏州、深圳、成都、西安、沈阳、天津，惠及华北、东北、华东、华南、西南和西北的技术研发者，并将于4月20日北京为本次巡回落下帷幕。 吉时利公司同时宣布，报名参会即时启动。
吉时利荣获半导体行业“五星级用户满意”嘉奖
美国俄亥俄州克利夫兰市2007年2月1日讯— 新兴测量需求解决方案的领导者美国吉时利 (Keithley) 仪器公司（NYSE代码：KEI）荣获VLSI市场调研公司授予的半导体行业“五星级用户满意”褒奖。
吉时利针对生产应用的混合测试系统发布PXI产品线
吉时利是目前业界唯一能使电子产品测试用户建立最佳混合系统的专业仪器制造商，其混合系统包括高精度仪器和高速度数据采集产品。
吉时利主办首次纳米技术电机测试博客
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，——宣布其已联合开发并主办了首次纳米技术博客，其专为研究纳米技术和微机电系统（MEMS）领域电机测试问题的工程师和研究者而设立。
吉时利新款信号发生器获得亚洲创新奖
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，——宣布其新推出的2910射频矢量信号发生器获得亚洲电子杂志的创新奖。这一创新奖项为认可亚洲电子业界的卓越产品而设立。本届创新奖已于2006年4月5日在该杂志的颁奖典礼上颁布。
吉时利在碳纳米管的IEEE测试标准中起关键作用
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，——宣布其4200型半导体特性分析系统符合并支持最新发布的碳纳米管电测试IEEE（美国电气和电子工程师学会）标准。 最近核准的IEEE 1650™-2005标准，即“碳纳米管的电特性测量标准方法” ，为刚起步的纳米技术业界提供了一套统一且通用的推荐测试和数据报告程序，用于评估碳纳米管的电特性。4200是纳米材料研究工程师的核心测试平台。
吉时利推出新产品线脉冲码型发生器
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，——宣布推出3400系列脉冲/码型发生器。它们具有优秀的关键性能，比如出众的信号质量和对从3纳秒到1000秒脉冲带宽的精确控制，并且具有简单直观的用户界面。
美国总统的科学顾问访问吉时利仪器公司
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，——宣布其将于3月2日接待美国总统的科技顾问委员会主管Celia Merzbacher博士的来访。
吉时利获得Test & Measurement World的Test of Time奖项
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，——宣布其2400系列数字源表®仪器获得了Test & Measurement World的Test of Time奖项。Test of Time奖项是用来表彰那些已经正式推向市场5年以上，但仍然广受欢迎的产品。Test & Measurement World 2006年度 Test of Time奖项的最终评选结果于2006 APEX展览会（2月8日-10日，美国加州Anaheim）期间的一个早餐会上举行了颁发仪式。
吉时利扩展源测量单元（SMU）产品线
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，——宣布推出两款2600系列数字源表。
“吉时利杯”纳米及微弱信号测量技术应用征文
随着2006新年钟声的敲响， 中国大地上掀起了贯彻落实科学发展观，实施科教兴国战略和人才强国战略，充分发挥科技第一生产力的作用， 以科技进步创新促进小康社会建设的浪潮。
吉时利将参加第十一届国际集成电路研讨会暨展览会
美国吉时利仪器公司将于2006年3月10日-11日在深圳会展中心参加的第十一届国际集成电路研讨会暨展览会(IIC-China)，展位号是8F17，真诚的邀请您光临我司的展位。
吉时利六十周年－改革创新的里程碑
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——美国吉时利(Keithley)仪器公司（NYSE：KEI）是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，今年迎来了它的不断发展创新的六十周年。
KEITHLEY 在新加坡和马来西亚设立分公司
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——做为新兴测试测量技术的领导企业, 美国吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI),宣布对其在东南亚的业务进行进一步扩张，包括大规模扩充其在新加坡的分公司,并在马来西亚新增两家分公司，以便对东南亚市场的客户提供更直接方便的支持和服务。
吉时利发布新的用于65nm及更小尺寸技术的半导体可靠性测试系统
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，发布了新的S510半导体可靠性测试系统，是高通道测量的完整方案，用于全世界最先进65nm节点及更小尺寸的ULSI CMOS过程工艺的可靠性测试和寿命。它提供了晶圆级可靠性(WLR)测试的高吞吐速率和高度的灵活性。减少评估可靠性和完成寿命建模的时间，从而减少项目的技术研发和工艺过程开发的耗时，缩短产品进入市场的时间。S510系统也可用于产品生产的WLR监测或作为实验室的参数测试系统。
Hamilton因其在电测量领域的杰出贡献而获得2005年度 IEEE Joseph F. Keithley奖
表彰VMetrix有限责任公司的总裁兼 CEO Clark A. Hamilton博士 在DC Josephson结方面取得的成就
吉时利参加LXI 联盟举行的第四次成员会议
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——LXI Consortium,即LXI联盟，是一个最近组成的标准化组织，于2005年5月24至25日举行了全体成员会议及其第一次协同工作测试会议，主办方为美国俄亥俄州克里夫兰市的Case Western Reserve大学。5月24日是为期一天的Plug-Fest，为成员公司提供了测试符合初步技术规范的原形LXI器件及这些器件间协同工作能力的机会。会议于5月25日召开并向成员和非成员开放，主题是"展示和说明" ，会议总结了Plug-Fest的成效及联盟的商业和技术日程。
KEITHLEY第19次荣获R&D 100奖
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，近日宣布其产品组合6221精密AC/DC电流源和2182A纳伏表荣获R&D 100奖。R&D 100奖被 Chicago Tribune称作“发明界的奥斯卡”，每年是由R&D杂志为当年最具创新和技术意义的100个上市产品颁发的奖项。 R&D杂志的编辑和一个独立的工业专家组评选出优胜者。这是Keithley的产品第19次荣获R&D 100奖。
吉时利发布《交互式测试与测量故障诊断指南》CD
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，发布了《交互式测试与测量故障诊断指南：如何避免常见的测量误差》CD。本CD让用户了解低电平测量中常见误差的特征和来源，低电平测量主要有低电压测量、低电流测量、低电阻测量、高电阻测量和高源内阻电压测量等。
吉时利（Keithley）发布新的半导体测试技术手册
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导——吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，发布了以“克服先进半导体技术的测量挑战：DC、脉冲和RF－从建模到制造”为标题的半导体测试技术参考手册。140页的手册描述了当半导体制造商进入65nm工艺甚至更小时所遇到的测量挑战。
吉时利（Keithley）推出新的脉冲式半导体器件特性测量方案
吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，宣布在4200型半导体特性分析系统中新增加了脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲I-V）子系统，更便于进行高介电（High－k）材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究，使其测量更加准确，产品投入市场更加快速。这是第一款商用化的集成了精确、可重复的脉冲和DC测量于一体的解决方案，而且使用非常方便。
吉时利(Keithley)引进行业最快、最小且成本最节约、适合于多通道应用的源测量仪器
美国俄亥俄州克里夫兰市2005年3月1日报导——吉时利仪器公司（NYSE:KEI）是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，最近发布了2600系列数字源表（System SourceMeter®）仪器，这是一个新的平台，能为包括硅和化合物半导体制造商在内的广阔范围内的电子元器件制造商有效地降低测试成本。2600系列数字源表仪器建立在吉时利公司第三代源测量技术（已申请专利）基础之上，综合了具有本行业最高吞吐量的源测量单元（SMU）和可升级的仪器构成，允许无缝集成1至16通道的数字源表仪器到一个系统中。2600系列数字源表仪器目前由2601型单通道和2602型双通道型组成，是构建ATE系统的理想选择，模块化结构并可升级，用于各种精密的DC、脉冲以及低频AC信号的源－测量应用。
吉时利扩充开关产品线，提供业内最高密度而小尺寸的开关系统综合了通道数很多、高密度而低成本的开关应用
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导 -- 吉时利 (Keithley)仪器公司 (NYSE: KEI)是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，最近推出了7002-HD型高密度双插槽开关主机及控制卡，可为客户提供仪表级的多路切换开关，而价格比同类产品低〜40%。7002-HD型开关支持高达384个矩阵节点或单机（2U高，3.5”或 88.9mm）320路多路转换开关，为测试测量行业提供最高密度的小尺寸开关系统。
吉时利（Keithley）公司发布USB-GPIB接口适配器
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导－美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导— 吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，正式发布了KUSB-488型USB-GPIB接口适配器。
吉时利（Keithley）公司发布2005年测试与测量产品目录
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导— 吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，正式发布了2005年测试与测量产品目录（英文版）。
吉时利仪器公司的北京办事处于2004年10月15日乔迁新址
美国吉时利仪器公司在中国一直保持良好的发展。现因我们业务发展的需要，吉时利仪器公司的北京办事处，于2004年10月15日乔迁新址： 北京市海淀区北三环中路47号,城建大厦A1301...
吉时利为改良的脉冲测试推出新版测试软件
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导 — 吉时利 (Keithley) 仪器公司(NYSE:KEI)，是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，—宣布发布6.1版交互式KTEI，这是功能强大的KTEI（吉时利交互式测试环境）测量软件的最新版，适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新的KTEI 6.1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I-V能力并显著改进了脉冲和DC测量的相关性。
吉时利发布新的精密DC和AC/DC电流源
美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导－吉时利仪器公司（纽约股票代码：KEI）电子测量仪器和系统的领导者，近期推出多种新产品，包括6221型交流和直流精密电流源、6220型直流电流源等。
吉时利发布温度测量CD
美国俄亥俄州克里夫兰市2004年6月8日报导－吉时利仪器公司（纽约证交所：KEI）作为全球通讯、半导体、元器件生产等领域产品测试技术的领导者。今日宣布推出其温度测量CD。这个CD主要介绍有关温度测量技术，其中着重介绍了温度传感器，因为这是温度测量的核心，包括其优缺点及有关测量应用知识等。
IEEE颁发2004年JOSEPH F. KEITHLEY奖，表彰电子测量领域的杰出贡献
电子工程师协会 (IEEE)提名Henry P. Hall作为2004年IEEE Joseph F. Keithley 奖(仪器与测量领域)的获得者。
吉时利（Keithley）仪器全国五城市巡展即将拉开帷幕
四月中旬开始，美国吉时利（Keithley）仪器公司携手其合作伙伴美国EEC公司（前身为Elgar公司，著名的AC与DC电源厂商）以“挑战测量极限”为主题的全国大型巡展即将拉开帷幕。此次活动主要涵盖吉时利品牌全系列产品、新产品发布、与eec电源在华合作的正式推广等多方位的深入推介，将精密测试与程控电源有机组合为更自信、更全面的解决方案。活动全程历时半个月，覆盖北京、西安、上海、深圳、成都等五个大中城市。届时将邀请当地行业协会、专家、媒体及专业人士参加。
Keithley在苏州举行《集成化数据采集与自动测试系统文集》信息发布会
美国吉时利 (Keithley) 仪器公司于2004年3月14日在人间天堂——苏州古吴饭店召开一次别开生面的信息发布会，正式发布了最新出版的《集成化数据采集与自动测试系统文集》，该文集详细介绍了Keithley 2700 Integra Series即集成系列的硬件组成、结构、软件及技术指标等，广泛应用于数据采集与控制、自动化测试系统、数据记录仪、分散式或者无线传输式采集与监控等。
吉时利发布用于纳米技术研究的免费测量软件
美国俄亥俄州克里夫兰市2004年2月25日报导— 在新兴测量需要解决方案领域处于领先的吉时利仪器公司（NYSE: KEI）目前开发了一套纳米技术工具包，这是一套专门设计用于纳米技术研究常见测试的测量软件工具，可以帮助纳米技术研究人员进行与纳米技术相关的精确而且通常十分复杂的电气测量。