吉时利发布高级参数探针卡的供货信息

美国俄亥俄州克利夫兰市2007年7月18日讯 — 新兴测量需求解决方案的领导者美国吉时利 (Keithley) 仪器公司（NYSE代码：KEI）近日宣布其已经授权位于加利福尼亚利弗莫尔的FormFactor公司（Nasdaq: FORM）为吉时利的半导体参数测试仪制造高性能的参数测试探针卡。 FormFactor公司提供的探针卡将应用于吉时利S600系列参数测试仪上，用于测量超低直流电流，以及对接触半导体晶圆的PIN脚进行标准直流参数测试。晶圆制造商和代工厂可以采用S600系列测试仪对用于组装和封装的晶圆进行合格性检测，或者进行工艺监测。

FormFactor公司的Takumi探针卡非常适合于与吉时利最先进的参数测试仪——S680型直流/射频参数测试系统相关的应用。S680是专门针对高级逻辑、存储器、模拟IC电路的晶圆级参数测试而设计的。它在一套测试系统内实现了并行测试功能、高灵敏度直流测量、飞安级分辨率测量和高达40GHz的射频s参数测量。该系统为65nm以上工艺节点的参数测量提供了当前业界最高的测试产能和最低的成本。

S680是高灵敏度、高速信号测试的理想选择。它将信号前置放大器设置在测试头上，能够放大只有几个厘米长的探针内的低电平信号，然后将放大后的信号通过电缆传输到系统机柜内的测试仪中进行分析。这种方法消除了一般情况下电缆和开关矩阵导致的速度与灵敏度损耗。利用8个通用通道，可以将外部仪器直接与探针连接在一起。

吉时利认为FormFactor公司在苛刻工艺、微小尺寸PAD和微细间距应用方面具有世界顶尖的设计水平，在测试结构和划片线的特征尺寸日益缩小的情况下，这些应用必须支持高性能的测量需求。

“对FormFactor公司的授权表明吉时利决心继续提供最新的探针卡与参数测试测量技术，并为客户扩大探针卡的可选数量，”吉时利副总裁、商务经理Mark Hoersten介绍说，“FormFactor公司的探针卡体现了极高的性能工艺，能够满足当前电子设备采用尺寸日益缩小的元件所带来的精密测量挑战。”

“将我们的Takumi参数测试平台扩展到吉时利的测试仪上，对于我们双方的客户都非常重要，” FormFactor高级副总裁、研发与首席技术官Benjamin N. Eldridge认为，“半导体厂商在将工艺移植到65nm以下节点的过程中，必须依靠测试公司提供最新的测量技术。吉时利长期以来在低电平直流半导体测试领域一直是创新技术的领导者，与吉时利的紧密合作将有利于我们共同提高技术融合水平。”

对新型子系统的强大支持

Keithley的KTE V5.2平台还改进了对嵌入式仪器子系统的支持，采用该种设计方式可提高系统总体测试吞吐量。该系统优化了多种新型子系统，包括一种能够将电容测量吞吐量提高2倍的新型LCR表、一个频谱分析仪（在基准电路分析中的应用逐渐增多）和Keithley的3400系列脉冲/图形发生器。3400系列脉冲/图形发生器能够满足高级半导体器件表征和材料研究过程中进行脉冲测试的需要。在器件尺寸不断减小、很多电子元件和材料的工作速度不断增长地驱动下，产生该类应用。

更多的信息

欲知吉时利S680直流/射频参数测试仪的详细信息，
欢迎访问吉时利网站http://www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=S680，或者与Keithley公司联系。

关于吉时利仪器公司

美国吉时利仪器公司具有60年的测试和测量经验，已经成为涵盖从DC(直流)到RF(射频)先进的电子测量仪器和系统的行业领导者。面对电子制造业对高性能的生产测试、工艺监控、产品的研究与开发方面的特殊需要与挑战，提供适用的解决方案。通过建立在电子测试研发方面的优势，吉时利仪器公司已经成为一个在半导体、无线通讯、光电器件和其它精密电子测量领域世界级的测试技术领导者。我们对客户的核心价值在于先进的精密测量技术与深入了解客户应用的有机结合，从而可以帮助我们的客户提高产品质量、产能与产量。

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