吉时利 4200-SCS 升级版支持太阳能电池测试、扩展的 C-V 测量频率范围和九槽机架结构
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克里夫兰,俄亥俄,2009年3月20日讯—— 点击这里,观看该产品的介绍视频。 KTEI V7.2 新增的测试库增强了4200-SCS 进行太阳能电池 I-V、C-V 和电阻测试的功能,在人们对可替代能源技术越来越感兴趣并且政府支持力度越来越大的情况下,这些测试功能将变得越来越重要。本次软件升级还支持最新的太阳能电池测试技术 DLCP(Drive-Level Capacitance Profiling,激励电平电容压型),而采用原来的测试方案是很难精确测试的。DLCP 能够提供薄膜太阳能电池上的缺陷密度信息。早在 2007 年 11 月份推出的 4200-CVU 型电容-电压测试卡经过改动可直接支持这一测试技术。 为支持 DLCP 测试,4200-CVU 的频率范围已经从 10kHz~10MHz 扩展到 1KHz~10MHz。经过扩展的频率范围也扩大了系统的应用领域,能够支持平板 LCD 和有机半导体(例如有机发光二极管OLED)的测试。 随着 I-V、脉冲和 C-V 特征分析应用的不断增长,需要更大测试灵活性和更强功能的 4200-SCS 用户逐渐发现他们的主机有些拥挤不堪了。为了满足这一需要,本次 V7.2 版的升级还支持九槽主机架构。以前,4200-SCS 只有八个插槽,安装了越来越多的源测量单元(SMU)、脉冲发生器和示波器卡以及电容-电压测量卡。现在的 4200-SCS 系统经过升级可以支持九个插槽;所有新的主机都将提供九个插槽。 为了支持 V7.2 版的升级,吉时利还推出了一款新的高性能三同轴线缆套件,用于连接 4200-SCS 和探测器,能够大大简化在直流 I-V、C-V 和脉冲测试配置之间转换的过程。这款新的线缆套件无需用户重新进行布线,也能够消除由于布线误差导致的测量误差。其中包括两种线缆套件——一种适用于 Cascade Microtech 探测器,另外一种适用于 SUSS MicroTec 探测器。 不断增强的系统功能确保产能不断增长 吉时利仪器公司作为半导体器件特征分析和参数测试系统的领先供应商,为全球各地的用户提供了电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)和脉冲I-V测量与分析所需的各种灵活解决方案。产品涵盖从台式仪器到成套系统,应用于材料分析、器件特征分析、圆片级可靠性分析、工艺控制监测等领域。吉时利通过其庞大的现场服务中心网络以及具有半导体专业技术知识的应用工程师,为去全球的半导体用户提供密切的服务。 更多详情: |
上次修改时间: 2009-04-29