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半导体测试系统

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可靠性测试

自动特性分析组合(ACS)测试系统

S510半导体可靠性测试系统

4200-SCS半导体特性分析系统- 集成前沿的脉冲能力和精密DC测量，用于65nm节点及更小尺寸

2612型双通道系统源表仪（200V）

元器件特性分析系统

4200-CVU测试仪

4200-CVU-UPGRADE型4200-CVU卡，基于已有4200-SCS的升级

4205-PG2双通道脉冲发生器

4200-SCP2双通道示波器卡

4200-SCP2HR 200MS双通道示波器卡

4200-PIV-A 脉冲I-V选件，适用于4200-SCS (包括4200-PG2和4200-SCP2,软件和专用互联硬件)

4200-PIV-Q脉冲I-V，具有静点和双通道脉冲

4200-FLASH非易失性存储器测试选件

低电流开关

707A 6槽，开关矩阵，具有多达576通道

708A单槽，开关矩阵，具有多达96通道

7072 8x12半导体矩阵卡(适用于707A和708A)

7072-HV 8x12,高电压,半导体矩阵卡(适用于707A和708A)

7174A 8x12,低电流,高速矩阵卡(适用于707A和708A)








上次修改时间: 2008-01-28
 
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