4200-FLASH非易失性存储器测试选件

4200-FLASH产品包能快速且简单的测试单个FLASH存储单元或小阵列。这一产品包利用了4205-PG2增加的许多新特性，并且包含了所有必要的代码和所需的连接件，以实现一套标准的应用了NAND或NOR技术的Flash存储器的测试，具有更高的脉冲电压以适合MLC技术。测试包括使用简单的界面产生程序和/或删除周期到专利的分段任意脉冲模式并且控制内嵌的高耐久输出继电器。使用内含的测试代码和长寿命输出继电器，耐久和干扰测试也轻而易举。FLASH产品包提供提供机箱外的易于理解的解决方案，并提供接入脉冲发生器和示波器用于一般用途的示波器应用。

• 多级脉冲四通道：
•     ±40V脉冲到高阻抗针(±20V到50Ω)
•     高耐久输出继电器提供快速开/关，用于删除脉冲时的针隔离
•     脉冲宽度：200纳秒到1秒
•     多达25脉冲级(100脉冲段)
• 包括测试:
•     耐久
•     程序-读
•     删除-读
•     干扰
  

*欲了解更详细信息（英文）- 您可以在搜索栏中输入型号的号码进行查询。