半导体参数测试与器件特征分析
适用于半导体可靠性、特征分析和参数测试的参数测试仪、半导体参数分析仪(SPA)、半导体开关

特色产品
器件特征分析
ACS 基本版
  • 针对元件测试、验证和分析应用进行了优化
  • 无需编码——ACS 直观的 GUI 简化了 I-V 测试、分析操作,帮助用户快速获取结果
  • 硬件灵活——能够动态地增加或拆除仪器,以满足不同的测试需求
参数分析仪
(I/V 曲线绘图仪)
4200 型半导体特征分析系统
  • 直观的点击式界面
  • 远程前置放大器具有 0.1fA 分辨率
  • 嵌入式 PC
  • Project Navigator 软件简化了测试控制过程
低电流开关
707A 型开关矩阵
  • 与 4200-SCS 无缝集成
  • 6 槽矩阵最多可控制 576 个双极开关通道
  • 交互式的单触式编程


使用吉时利精密测量方案简化太阳能电池测试