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半导体参数分析仪
半导体参数分析仪
对于最大程度地提高研发技术人员和工程师生产力的
参数测试
，4200-SCS半导体特征系统结合了实验室等级的直流和脉冲装置特性、实时绘图和分析，在全集成特征系统中具有高精度和亚飞安精度。可选项包括4210-CVU型电容电压单元、4225-PMU型超快速I-V模块、4220-PGU型脉冲发生器单元、4225-RPM型远程放大器/开关。吉时利ACS基础版软件对元件和分立（封装）半导体设备的测试进行了优化。
选择指南
ACS基本版
半导体元件特征分析
失效分析
易于适应新技术应用
包含支持数百个标准器件的测试库
支持全系列吉时利数字源表和更多设备
4200-SCS半导体参数分析仪
基于Windows的直观用户界面
单仪器解决方案
具有I-V、C-V、脉冲发生功能以及脉冲I-V测试功能
包含支持各种技术的应用库
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