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半导体可靠性测试解决方案
自动特征分析套件(ACS)测试系统
  • 交互式界面
  • 灵活的测试定序功能
  • 强大的应力/测量工具
  • 公式化程序支持参数分析和线性拟合
  • 简便的点击式分析功能
自动特征分析套件(ACS)测试系统
  • 支持真正的每管脚SMU并行测试
  • 支持精确定时和同步功能
  • 单个机架内可配置2到44个SMU
  • 支持手动和自动操作
  • 可根据需要增加硬件、测试规划和库
  • 兼容常见的全自动探测器
自动特征分析套件(ACS)测试系统
  • 支持应力/测量循环控制功能
  • 兼容很多JEDEC标准测试方法
  • 包含丰富的前/后应力/测量测试库
  • 公式化程序支持参数分析和线性拟合
  • 带有分析工具的电子表格
  • 全功能绘图工具

半导体特性分析电子指南 精密直流I-V、交流阻抗以及超快I-V或瞬态I-V测量应用指南

 
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