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| 吉时利扩展C-V测试功能的4200半导体特征分析系统 |
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4200-SCS是半导体器件、测试结构和材料的直流与脉冲特征分析和可靠性测试的总系统解决方案。这一先进的参数分析仪为多种半导体测试提供了直观、高级的功能。4200-SCS将史无前例的测量速度和精度与一台基于Windows的嵌入式PC机和KITE（吉时利交互式测试环境）工具融为一体，是一套功能强大的单台测试解决方案。
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| ACS集成测试系统是一种可灵活配置、基于仪表的系统，用于器件、晶圆或晶圆盒（Cassette)的半导体特征分析；其强大而灵活的自动化软件系统实现了独特的测量功能。这种模块化的解决方案能够满足半导体产业对灵活性和扩展性的不同需求。结合ACS（自动特征分析）软件平台，吉时利久经考验的仪器和测量技术构成了该系统的核心，ACS系统填补了交互式实验室研究设备与高成本和高产能的生产测试设备之间的空白。 |
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Keithley的S600系列参数测试系统是专为晶圆厂和晶圆代工厂设计，能很大节省测试费用的新一代测试设备，这不仅包括购买时更合理的价格，也包括在系统升级换代时通过重新利用来保护他们的投资，并且有着更长的使用寿命。
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吉时利提供连续统一的晶片级可靠性（WLR）测试解决方案，体现了对技术节点、流量需求和成本等多方面的考虑。这种连续性允许您从一种方案向另一种方案转变和扩建，而不需要牺牲现有设备的投资。它支持多种WLR测试，以及参数测试和分析，并提供手动和全自动操作。
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吉时利以无可匹敌的灵敏度和自动化的特性参数分析及测试系统，成为半导体测试解决方案的领导者。我们的半导体测试方案具有多功能、可升级、可扩展等特点，专注于帮助您满足不断变化的新材料、新工艺和新结构等的挑战。
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