吉时利为4200-CVU的硬件提供大量程序范例、测试库、以及唾手可得的内置参数提取实例。八个软件库提供最广泛的C-V测试和分析功能，涵盖所有标准应用，其中包括针对高K和低K材料、MOSFET、BJT、二极管、Flash存储器、光电池单元、III-V族化合物器件、碳纳米管（CNT）器件的C-V、C-t、C-f测量与分析。除测量结电容、管脚间电容以及互连线电容之外，系统提供的分析与参数提取软件还能够实现掺杂分布、TOX、游离子和载流子寿命的分析功能。这些测试包括各种线性的和自定义的C-V扫描、C与时间的关系、C与频率的关系分析功能。

不同于其它特征分析系统，吉时利C-V/I-V分析提取工具提供定义清晰的开放式环境，用户能够很方便地修改和定制测试例程。吉时利工程师根据其丰富的应用经验开发的多个工程范例，能够大大缩短用户程序开发时间。