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4200-SCS |
竞争对手的高性能系统 |
竞争对手的中等性能系统 |
竞争对手的
模块化单元+Windows
GUI+
外部
PC + GPIB
接口 |
普通测量(失效分析、器件特征分析) |
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■ |
■ |
■ |
纳米技术研究(低电流、低电压) |
■ |
■ |
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高k介质(多频C-V、电荷泵、电荷俘获) |
■ |
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低k介质 |
■ |
■ |
■ |
■ |
霍尔效应与范德堡测试 |
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铜互连(低压) |
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RFIC、高功率MOSFET/BJT(高功率源/测量) |
■ |
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器件可靠性与寿命测试
(交流应力、HCI、NBTI、QBD和EM) |
■ |
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测试具有恒温限制的器件(SOI器件、FinFET) |
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4200-SCS |
竞争对手的中等或高性能系统 |
竞争对手的模块化单元+Windows GUI+外部PC
+第三方 GPIB解决方案 |
测
量
功
能 |
电流分辨率 |
0.1fA |
10fA或1fA |
10fA |
最大电流 |
1A |
100mA |
1A |
最大SMU配置 |
中等功率SMU |
8MP |
4MP |
8MP |
高功率SMU |
4MP + 4HP |
- |
0MP + 4HP |
备选低噪声远程前置放大器 |
是 |
否 |
否 |
可升级 |
是 |
否 |
是 |
所需的自校准(ACAL)间隔 |
24小时 |
30分钟 |
1小时 |
每通道的高精度(22位)ADC |
是 |
否 |
否 |
最低SMU电流量程/偏移 |
1pA/10fA |
1nA/3pA或10pA/20fA |
1nA/3pA |
最低SMU电压量程/偏移 |
200mV/80μV |
2V/700μV或2V/200μV |
2V/700μV |
数
据
采
集
与
控
制 |
用户界面 |
Windows GUI |
按钮式 |
Windows GUI |
同时观看多个测试 |
是 |
否 |
是 |
对器件或圆片进行测试定序 |
单击 |
IBASIC编程 |
多次点击 |
厂商提供C-V驱动和分析 |
是 |
否 |
是 |
厂商提供开关驱动 |
是 |
部分 |
是 |
厂商提供探针驱动 |
是 |
否 |
是 |
可扩展GUI能够支持所有RS-232或GPIB设备 |
是 |
否 |
是 |
安捷伦4145风格的命令集 |
是 |
是 |
否 |
硬件/GUI架构 |
PCI/Windows |
面板 |
PC→Windows→USB→
GPIB→
专用接口 |
每通道配置微处理器/存储器 |
是 |
否 |
否 |
绘图
和报
告功
能 |
内置Excel风格的表单 |
是 |
否 |
否 |
直接导出.xls文件 |
是 |
否 |
否 |
导出.bmp, .jpg或.tif图形文件 |
是 |
否 |
通过PC |
连
接
能
力 |
操作系统 |
Windows |
专用 |
外部PC上的Windows |
用于数据存档的CD-RW和大容量硬盘 |
是 |
否 |
通过PC |
联网 |
Windows |
仅限于NFS |
通过PC |
打印 |
任意Windows
驱动程序 |
仅限于HP打印机 |
通过PC |
便携式媒体 |
CD-RW & 软驱 |
软驱 |
通过PC |
支
持 |
由一家厂商供货并负责所有的服务与支持 |
是 |
是
(面板操作) |
否 |
不间断的软件支持 |
KTE交互
式环境1 |
用户编写 |
IC/V 2.1 Lite2 |
支持用户添加的仪器驱动 |
是 |
否 |
否 |