200-SCS半导体特性分析系统应用对比表
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4200-SCS半导体 特征分析系统

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     半导体特征分析系统应用的对比
4200-SCS全面支持各种特征分析应用,简化了用户的购买决策过程。它兼具配置宽的灵活性和业界领先的测量功能,没有为了满足当前的测试需求而牺牲以后的扩展能力。

 

4200-SCS

竞争对手的高性能系统

竞争对手的中等性能系统

竞争对手的
模块化单元+Windows
GUI+ 外部
PC + GPIB
接口

普通测量(失效分析、器件特征分析)

纳米技术研究(低电流、低电压)

 

 

高k介质(多频C-V、电荷泵、电荷俘获)

 

 

 

低k介质

霍尔效应与范德堡测试

 

 

 

铜互连(低压)

 

 

RFIC、高功率MOSFET/BJT(高功率源/测量)

 

 

器件可靠性与寿命测试
(交流应力、HCI、NBTI、QBD和EM)

 

 

 

测试具有恒温限制的器件(SOI器件、FinFET)

 

 

 

 

     性能对比

 

 

4200-SCS

竞争对手的中等或高性能系统

竞争对手的模块化单元+Windows GUI+外部PC
+第三方 GPIB解决方案




电流分辨率

0.1fA

10fA或1fA

10fA

最大电流

1A

100mA

1A

最大SMU配置

中等功率SMU

8MP

4MP

8MP

高功率SMU

4MP + 4HP

-

0MP + 4HP

备选低噪声远程前置放大器

可升级

所需的自校准(ACAL)间隔

24小时

30分钟

1小时

每通道的高精度(22位)ADC

最低SMU电流量程/偏移

1pA/10fA

1nA/3pA或10pA/20fA

1nA/3pA

最低SMU电压量程/偏移

200mV/80μV

2V/700μV或2V/200μV

2V/700μV







用户界面

Windows GUI

按钮式

Windows GUI

同时观看多个测试

对器件或圆片进行测试定序

单击

IBASIC编程

多次点击

厂商提供C-V驱动和分析

厂商提供开关驱动

部分

厂商提供探针驱动

可扩展GUI能够支持所有RS-232或GPIB设备

安捷伦4145风格的命令集

硬件/GUI架构

PCI/Windows

面板

PC→Windows→USB→
GPIB→ 专用接口

每通道配置微处理器/存储器

绘图
和报
告功

内置Excel风格的表单

直接导出.xls文件

导出.bmp, .jpg或.tif图形文件

通过PC




操作系统

Windows

专用

外部PC上的Windows

用于数据存档的CD-RW和大容量硬盘

通过PC

联网

Windows

仅限于NFS

通过PC

打印

任意Windows
驱动程序

仅限于HP打印机

通过PC

便携式媒体

CD-RW & 软驱

软驱

通过PC


由一家厂商供货并负责所有的服务与支持


(面板操作)

不间断的软件支持

KTE交互
式环境1

用户编写

IC/V 2.1 Lite2

支持用户添加的仪器驱动

    1. 提供3年的记录以及不间断的维护与开发服务。
    2. 需要硬件密钥维护安全性,一旦丢失很难替换。