吉时利的S600系列参数测试仪能够帮助广大厂商和圆片翻砂厂降低COT（测试成本）。半导体材料、设计规则和圆片尺寸的不断变化使得半导体工艺每隔18个月就出现一次“拐点”。这些快速的变化意味着，影响半导体厂商COT最重要的因素之一是固定设备重用，而不是初始设备成本。因此，能够对参数测试系统进行高效费比的升级以满足新的测试需求是非常关键的。大多数厂商一般都希望在多代工艺上能够实现70-80%的固定设备重用率，吉时利的参数测试仪能够在5个以上的工艺拐点跨度内实现具有业界领先水平的固定设备重用率。
S680测试仪是吉时利最新推出的基于S600 Linux或Solaris/UNIX平台的最强系统配置。与吉时利之前推出的S600系列系统一样，S680为用户提供了极高的测试产能，以及出色的直流测量功能和良好的测试灵活性。功能经过增强的S680能够满足最新的测量需求，能够用于超薄栅介质、SOI、新器件、新材料（例如铜和低k介质）、飞安级直流漏流测量和高性能BiCMOS与模拟器件射频测量的特征分析。
