吉时利提供连续统一的晶片级可靠性（WLR）测试解决方案，体现了对技术节点、流量需求和成本等多方面的考虑。这种连续性允许您从一种方案向另一种方案转变和扩建，而不需要牺牲现有设备的投资。它支持多种WLR测试，以及参数测试和分析，并提供手动和全自动操作。

吉时利的晶元片级可靠性（WLR）测试解决方案涵盖从常规到装备了WLR库的适合生产环境的全自动参数测试系统。这些构件很容易集成到原有的可靠性、技术开发和半导体实验室系统中去。系统的设计理念之一，就是为新的可靠性测试需求的发展，提供极大的设备和软件可重用性。当您的产品组合超越现有技术，向着新材料以及90nm和65nm的高技术发展时，此系统为您提供了一个节省成本的移植途径。这一点也有助于您继续使用熟悉的、证实可靠的系统。